Napredno iskanje

Domov / Knjiga

Electromigration In Ulsi Interconnections

Cher Ming Tan

Založnik: World Scientific

Cena knjige 119,47 EUR

ISBN9789814273329

VezavaTrda vezava

RazpoložljivostNa zalogi

Datum izdaje2010

Strani291

Brezplačna dostava v Slovenijo.

Naroči knjigo

Sorodne knjige

Applications of Finite Element Methods for Reliability Studies on ULSI Interconnections

Tan, Cher Ming

Datum izdaje: 19. april 2013

ISBN: 9781447126416

99,34 EUR

Brezplačna dostava v Slovenijo.

Več o knjigi Naroči knjigo

Applications of Finite Element Methods for Reliability Studies on ULSI Interconnections

Tan, Cher Ming

Datum izdaje: 2011

ISBN: 9780857293091

100,93 EUR

Brezplačna dostava v Slovenijo.

Več o knjigi Naroči knjigo

Copper Interconnect Technology

Gupta, Tapan

Datum izdaje: 2014

ISBN: 9781489985118

179,59 EUR

Brezplačna dostava v Slovenijo.

Več o knjigi Naroči knjigo

Copper Interconnect Technology

Gupta, Tapan

Datum izdaje: 2009

ISBN: 9781441900753

179,59 EUR

Brezplačna dostava v Slovenijo.

Več o knjigi Naroči knjigo

Graphene and VLSI Interconnects

Tan, Cher-Ming

Datum izdaje: 2021

ISBN: 9789814877824

162,83 EUR

Brezplačna dostava v Slovenijo.

Več o knjigi Naroči knjigo

Reliability and Failure Analysis of High-Power LED Packaging

Tan, Cher Ming

Datum izdaje: 15. november 2021

ISBN: 9780128224083

200,47 EUR

Brezplačna dostava v Slovenijo.

Več o knjigi Naroči knjigo