Knjige avtorja: Cher Ming Tan

Graphene and VLSI Interconnects

Tan, Cher-Ming

Datum izdaje: 2021

ISBN: 9789814877824

Razpoložljivost: Na zalogi

Vezava: Trda vezava

162,83 EUR

Brezplačna dostava v Slovenijo.

Več o knjigi Naroči knjigo

Reliability and Failure Analysis of High-Power LED Packaging

Tan, Cher Ming

Datum izdaje: 15. november 2021

ISBN: 9780128224083

Razpoložljivost: Na zalogi

Vezava: Mehka vezava

200,47 EUR

Brezplačna dostava v Slovenijo.

Več o knjigi Naroči knjigo

Applications of Finite Element Methods for Reliability Studies on ULSI Interconnections

Tan, Cher Ming

Datum izdaje: 2011

ISBN: 9780857293091

Razpoložljivost: Na zalogi

Vezava: Trda vezava

100,93 EUR

Brezplačna dostava v Slovenijo.

Več o knjigi Naroči knjigo

Applications of Finite Element Methods for Reliability Studies on ULSI Interconnections

Tan, Cher Ming

Datum izdaje: 19. april 2013

ISBN: 9781447126416

Razpoložljivost: Na zalogi

Vezava: Mehka vezava

99,34 EUR

Brezplačna dostava v Slovenijo.

Več o knjigi Naroči knjigo

Electromigration In Ulsi Interconnections

Cher Ming Tan

Datum izdaje: 2010

ISBN: 9789814273329

Razpoložljivost: Na zalogi

Vezava: Trda vezava

119,47 EUR

Brezplačna dostava v Slovenijo.

Več o knjigi Naroči knjigo

Theory and Practice of Quality and Reliability Engineering in Asia Industry

Tan, Cher Ming

Datum izdaje: 26. januar 2017

ISBN: 9789811032882

Razpoložljivost: Na zalogi

Vezava: Trda vezava

228,25 EUR

Brezplačna dostava v Slovenijo.

Več o knjigi Naroči knjigo

Theory and Practice of Quality and Reliability Engineering in Asia Industry

Tan, Cher Ming

Datum izdaje: 14. julij 2018

ISBN: 9789811098345

Razpoložljivost: Na zalogi

Vezava: Mehka vezava

228,25 EUR

Brezplačna dostava v Slovenijo.

Več o knjigi Naroči knjigo

Electromigration Modeling at Circuit Layout Level

Tan, Cher Ming

Datum izdaje: 2013

ISBN: 9789814451208

Razpoložljivost: Na zalogi

Vezava: Mehka vezava

53,42 EUR

Brezplačna dostava v Slovenijo.

Več o knjigi Naroči knjigo

Simulated Annealing

Tan, Cher Ming

Datum izdaje: 2008

ISBN: 9789537619077

Razpoložljivost: Na zalogi

Vezava: Trda vezava

183,74 EUR

Brezplačna dostava v Slovenijo.

Več o knjigi Naroči knjigo

Reliability Analysis of Electrotechnical Devices

Tan, Cher Ming

Datum izdaje: 20. julij 2022

ISBN: 9783036546537

Razpoložljivost: Na zalogi

Vezava: Trda vezava

59,66 EUR

Brezplačna dostava v Slovenijo.

Več o knjigi Naroči knjigo