Domov / Knjiga

Electromigration and Electronic Device Degradation

A. Christou

Založnik: Wiley

Cena knjige 254,86 EUR

ISBN9780471584896

VezavaTrda vezava

RazpoložljivostNa zalogi

Datum izdaje1994

Strani343

Brezplačna dostava v Slovenijo.

Naroči knjigo

Sorodne knjige

Reliability Prediction for Microelectronics

Joseph B. Bernstein, Alain Bensoussan, Emmanuel Bender

Datum izdaje: 2024

ISBN: 9781394210930

158,59 EUR

Brezplačna dostava v Slovenijo.

Več o knjigi Naroči knjigo

Semiconductor Devices in Harsh Conditions

Kirsten Weide-Zaage (editor), Malgorzata Chrzanowska-Jeske (editor)

Datum izdaje: 2020

ISBN: 9780367656362

78,58 EUR

Brezplačna dostava v Slovenijo.

Več o knjigi Naroči knjigo

Reliability and Failure of Electronic Materials and Devices

Ohring, Milton

Datum izdaje: 1998

ISBN: 9780125249850

169,09 EUR

Brezplačna dostava v Slovenijo.

Več o knjigi Naroči knjigo

Electromigration in Thin Films and Electronic Devices: Materials and Reliability

Kim, Choong-Un

Datum izdaje: 2. september 2016

ISBN: 9780081016961

270,42 EUR

Brezplačna dostava v Slovenijo.

Več o knjigi Naroči knjigo

The Research Handbook

Dr Prokopis A Christou, Katerina Pericleous

ISBN: 9781836991861

104,92 EUR

Brezplačna dostava v Slovenijo.

Več o knjigi Naroči knjigo

Computer Supported Qualitative Research

World Conference on Qualitative Research (creator), Prokopis A. Christou (editor), Grzegorz Bryda (editor), Judita Kasperiuniene (editor), Ajay Gupta (editor)

ISBN: 9783032029980

227,06 EUR

Brezplačna dostava v Slovenijo.

Več o knjigi Naroči knjigo