Napredno iskanje

Domov / Knjiga

Reliability Prediction for Microelectronics

Joseph B. Bernstein, Alain Bensoussan, Emmanuel Bender

Založnik: Wiley & Sons, Limited, John

Cena knjige 159,42 EUR

ISBN9781394210930

VezavaTrda vezava

RazpoložljivostNa zalogi

Datum izdaje2024

StraniNi podatka

Brezplačna dostava v Slovenijo.

Naroči knjigo

Sorodne knjige

Reliability and Physics-of-Healthy in Mechatronics

Abdelkhalak El Hami (editor), David Delaux (editor), Henri Grzeskowiak (editor)

Datum izdaje: 2023

ISBN: 9781786308818

173,83 EUR

Brezplačna dostava v Slovenijo.

Več o knjigi Naroči knjigo

Advances in VLSI, Communication, and Signal Processing

International Conference on VLSI, Communication and Signal Processing (creator), R. A. Mishra (editor), V. K. Srivastava (editor), Arvind Kumar (editor), Kshirasagar Naik (editor)

ISBN: 9789819686896

267,17 EUR

Brezplačna dostava v Slovenijo.

Več o knjigi Naroči knjigo

Practical ESD Protection Design

Albert Wang

Datum izdaje: 2022

ISBN: 9781119850403

163,25 EUR

Brezplačna dostava v Slovenijo.

Več o knjigi Naroči knjigo

Reliability, Yield, and Stress Burn-in

Way Kuo, Wei-Ting Kary Chien, Taeho Kim

Datum izdaje: 1998

ISBN: 9780792381075

179,59 EUR

Brezplačna dostava v Slovenijo.

Več o knjigi Naroči knjigo

Micro- And Opto-Electronic Materials and Structures

Ephraim Suhir, Yung-Cheng Lee, C. P. Wong

Datum izdaje: 2007

ISBN: 9780387279749

496,55 EUR

Brezplačna dostava v Slovenijo.

Več o knjigi Naroči knjigo

Reliability, Yield, and Stress Burn-In: A Unified Approach for Microelectronics Systems Manufacturing & Software Development

Way Kuo

Datum izdaje: 14. marec 2014

ISBN: 9781461375968

179,59 EUR

Brezplačna dostava v Slovenijo.

Več o knjigi Naroči knjigo