MojaKnjiga.eu

O nas Dostava Načini plačila Pogoji uporabe

Brezplačna dostava v Slovenijo na vsa naročila.

Napredno iskanje

Naslovnica: VLSI Design and Test

Domov / Knjiga

VLSI Design and Test

Brajesh Rawat (urednik), Hitesh Shirmali (urednik), Shivani Malhotra (urednik), Rohit Y. Sharma (urednik), Neeraj Goel (urednik)

Cena knjige 121,68 EUR
ISBN9783032262974
VezavaMehka vezava
RazpoložljivostŠe ni izšlo
Datum izdajeNi podatka
StraniNi podatka

Brezplačna dostava v Slovenijo.

Naroči knjigo

Sorodne knjige

Naslovnica: VLSI Design and Test : 21st International Symposium, VDAT 2017, Roorkee, India, June 29 - July 2, 2017, Revised Selected Papers

VLSI Design and Test : 21st International Symposium, VDAT 2017, Roorkee, India, June 29 - July 2, 2017, Revised Selected Papers

Kaushik, Brajesh Kumar
Datum izdaje: 26. januar 2018
ISBN: 9789811074691
107,08 EUR
Brezplačna dostava v Slovenijo.
Več o knjigi Naroči knjigo
Naslovnica: VLSI Design and Test

VLSI Design and Test

Brajesh Rawat (editor), Hitesh Shirmali (editor), Shivani Malhotra (editor), Rohit Y. Sharma (editor), Neeraj Goel (editor)
ISBN: 9783032263049
109,51 EUR
Brezplačna dostava v Slovenijo.
Več o knjigi Naroči knjigo
Naslovnica: VLSI Design and Test for Systems Dependability

VLSI Design and Test for Systems Dependability

Asai, Shojiro
Datum izdaje: 21. julij 2018
ISBN: 9784431565925
246,58 EUR
Brezplačna dostava v Slovenijo.
Več o knjigi Naroči knjigo
Naslovnica: VLSI Design and Test for Systems Dependability

VLSI Design and Test for Systems Dependability

Asai, Shojiro
Datum izdaje: 26. januar 2019
ISBN: 9784431568636
246,58 EUR
Brezplačna dostava v Slovenijo.
Več o knjigi Naroči knjigo
Naslovnica: Progress in VLSI Design and Test : 16th International Symposium on VSLI Design and Test, VDAT 2012, Shipur, India, July 1-4, 2012, Proceedings

Progress in VLSI Design and Test : 16th International Symposium on VSLI Design and Test, VDAT 2012, Shipur, India, July 1-4, 2012, Proceedings

Rahaman, Hafizur
Datum izdaje: 2012
ISBN: 9783642314933
56,88 EUR
Brezplačna dostava v Slovenijo.
Več o knjigi Naroči knjigo
Naslovnica: VLSI Design and Test

VLSI Design and Test

Ambika Prasad Shah (editor), Sudeb Dasgupta (editor), Anand Darji (editor), Jaynarayan Tudu (editor)
Datum izdaje: 2023
ISBN: 9783031215131
103,50 EUR
Brezplačna dostava v Slovenijo.
Več o knjigi Naroči knjigo

Copyright 2025 - 2026 Mihov.com d.o.o., zagotavlja bestseller.si