Naslovnica: Reliability and Yield in Nanoelectronics Manufacturing

Domov / Knjiga

Reliability and Yield in Nanoelectronics Manufacturing

Wei-Ting Kary Chien, Way Kuo

Založnik: Springer

Cena knjige 228,91 EUR

ISBN9783032231895

VezavaTrda vezava

RazpoložljivostNa zalogi

Datum izdaje2026

Strani350

Brezplačna dostava v Slovenijo.

Naroči knjigo