Napredno iskanje

$Naslovnica: X-Ray Diffraction at Elevated Temperatures$

Domov / Knjiga

X-Ray Diffraction at Elevated Temperatures

A Method for In Situ Process Analysis

D. D. L. Chung, Patrick W. DeHaven, H. Arnold, Debastis Ghosh

Založnik: Wiley

Cena knjige 456,98 EUR

ISBN9780471187264

VezavaTrda vezava

RazpoložljivostNi podatka

Datum izdaje26. februar 1993

Strani268

Brezplačna dostava v Slovenijo.

Naroči knjigo

Kategorije

X-rays, diffraction