Domov / Knjiga

Advanced VLSI Design and Testability Issues

Suman Lata Tripathi, Sobhit Saxena, Sushanta Kumar Mohapatra

Založnik: Taylor & Francis Group, CRC Press

Cena knjige 170,88 EUR

ISBN9780367492823

VezavaTrda vezava

RazpoložljivostNa zalogi

Datum izdaje2020

Strani378

Brezplačna dostava v Slovenijo.

Naroči knjigo

Sorodne knjige

Advanced VLSI Design and Testability Issues

Tripathi, Suman Lata

Datum izdaje: 2022

ISBN: 9780367538361

63,14 EUR

Brezplačna dostava v Slovenijo.

Več o knjigi Naroči knjigo

Principles of Testing Electronic Circuits

Samiha Mourad, Yervant Zorian

Datum izdaje: 15. januar 2000

ISBN: 9780471319313

186,41 EUR

Brezplačna dostava v Slovenijo.

Več o knjigi Naroči knjigo

Built-in Test for VLSI

Paul H. Bardell, William H. McAnney, Jacob Savir

Datum izdaje: 1987

ISBN: 9780471624639

257,96 EUR

Brezplačna dostava v Slovenijo.

Več o knjigi Naroči knjigo

Embedded Systems

Krzysztof Iniewski (editor of compilation)

Datum izdaje: 2013

ISBN: 9781118352151

179,73 EUR

Brezplačna dostava v Slovenijo.

Več o knjigi Naroči knjigo

Machine Learning Applications in Electronic Design Automation

Haoxing Ren (editor), Jiang Hu (editor)

Datum izdaje: 2024

ISBN: 9783031130762

89,53 EUR

Brezplačna dostava v Slovenijo.

Več o knjigi Naroči knjigo

Hardware Security: Design, Threats, and Safeguards

Mukhopadhyay, Debdeep

Datum izdaje: 2014

ISBN: 9781439895832

207,04 EUR

Brezplačna dostava v Slovenijo.

Več o knjigi Naroči knjigo