Domov / Knjiga

Reliability Prediction from Burn-In Data Fit to Reliability Models

Joseph Bernstein

Založnik: Elsevier Science Publishing Co Inc

Cena knjige 51,31 EUR

ISBN9780128007471

VezavaMehka vezava

RazpoložljivostNa zalogi

Datum izdaje2014

StraniNi podatka

Brezplačna dostava v Slovenijo.

Naroči knjigo

Sorodne knjige

Product Maturity. 1 Theoretical Principles and Industrial Applications

Franck Bayle

Datum izdaje: 2022

ISBN: 9781786307392

184,83 EUR

Brezplačna dostava v Slovenijo.

Več o knjigi Naroči knjigo

Reliability, Yield, and Stress Burn-in

Way Kuo, Wei-Ting Kary Chien, Taeho Kim

Datum izdaje: 1998

ISBN: 9780792381075

179,15 EUR

Brezplačna dostava v Slovenijo.

Več o knjigi Naroči knjigo

Lifetime Data

Nicholas P. Jewell

Datum izdaje: 30. november 1995

ISBN: 9780792337836

179,15 EUR

Brezplačna dostava v Slovenijo.

Več o knjigi Naroči knjigo

Reliability, Yield, and Stress Burn-In: A Unified Approach for Microelectronics Systems Manufacturing & Software Development

Way Kuo

Datum izdaje: 14. marec 2014

ISBN: 9781461375968

179,15 EUR

Brezplačna dostava v Slovenijo.

Več o knjigi Naroči knjigo

Lifetime Data: Models in Reliability and Survival Analysis

Jewell, Nicholas P.

Datum izdaje: 2010

ISBN: 9781441947536

179,15 EUR

Brezplačna dostava v Slovenijo.

Več o knjigi Naroči knjigo

High Performance Computing and Communications Theoretical Computer Science and General Issues

Ronald Perrott (editor), Barbara Chapman (editor), Jaspal Subhlok (editor), Rodrigo Fernandes de Mello (editor), Laurence T. Yang (editor)

Datum izdaje: 2007

ISBN: 9783540754435

108,18 EUR

Brezplačna dostava v Slovenijo.

Več o knjigi Naroči knjigo